全球首款 | 精测电子联合长光辰芯发布全新高精度显示器缺陷检测解决方案

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2025年3月10日，武汉精测电子集团股份有限公司（以下简称"精测电子"）与长春长光辰芯微电子股份有限公司（以下简称"长光辰芯"）联合宣布推出全球首款基于2.71亿像素CMOS图像传感器的全新高精度显示器缺陷检测解决方案，为高端工业检测、显示器质量缺陷检测等细分领域带来全新的技术突破。

随着智能制造和工业4.0的推进，依托机器视觉系统的生产线自动化已成为企业提升生产效率的关键手段。工业成像设备作为机器视觉系统的核心组件，基于设备分辨率、帧率、数据传输速度以及优化系统集成的持续提升，可以显著提高检测效率和精度，以满足新一代显示技术对高分辨与微小缺陷检测提出的严格要求。

精测电子 AOI检测设备(左) 加特林光学仪器（右）

本次发布的全新解决方案采用了长光辰芯2.71亿像素超高分辨率的CMOS图像传感器——GMAX15271BSI，该芯片具备先进的1.5μm背照式像素技术，同时得益于先进的电路设计，可实现0.75e-的超低读出噪声和73.9dB的高动态范围，配合高速sub-LVDS数据接口，可确保设备在高传输速率下数据的完整性与稳定性。

结合精测电子独创的显示屏单像素亮色度精确提取算法技术，传感器的2.71亿像素为显示屏的亮色度检测和补偿提供更高的成像Mapping（分辨率高达3800*3000的 Micro OLED显示器，依然可以高达5*4.6的Mapping），弱化成像时的摩尔纹，可极大降低对高分辨率大尺寸显示器的微小缺陷检测时的误判，赋予了设备精确检测1/3 Dot缺陷的能力；极低的读出噪声和高动态范围结合高分辨率和独创算法，为显示器中低灰阶的微弱缺陷检测与补偿，提供了新的可能。

精测电子与长光辰芯围绕高精度显示器缺陷检测解决方案所展开的一系列卓有成效的合作，将持续为行业带来积极影响。凭借GMAX15271BSI的独特优势以及精测电子在机器视觉领域的技术积淀，也将持续降低对PixelShift技术依赖，实现显示器检测方案全流程、高精度、高时效性的技术突破，从而为客户提速增效，促进生产流程的优化升级。